硬盤壞道的產(chǎn)生及表現(xiàn)
我們常常聽說硬盤壞道，但是具體什么是壞道很多人卻并不十分清楚。其實(shí)，硬盤壞道包括物理壞道和邏輯壞道。下面是相關(guān)的內(nèi)容介紹，快來看看吧。
硬盤物理壞道
硬盤物理壞道也即壞扇區(qū)，是硬盤中最常見的問題之一。其產(chǎn)生的原因除了硬盤本身的質(zhì)量問題以及老化原因外，平時(shí)不注意保養(yǎng)以及多塵的環(huán)境也可能產(chǎn)生硬盤壞道，如內(nèi)存太小導(dǎo)致應(yīng)用軟件頻繁訪問硬盤、對硬盤過于頻繁的整理碎片、不恰當(dāng)?shù)某l、電源質(zhì)量不好、溫度過高、防塵不良等。
一般每個(gè)扇區(qū)可以記錄512KB的數(shù)據(jù)，如果其中一個(gè)字節(jié)出錯(cuò)，則該扇區(qū)就被判斷為壞道。每個(gè)扇區(qū)除了記錄512KB的數(shù)據(jù)外。還記錄標(biāo)識信息、校驗(yàn)碼、地址信息等，其中任何一部分信息出錯(cuò)都會導(dǎo)致該扇區(qū)被判斷為壞道。
硬盤出現(xiàn)物理壞道一般表現(xiàn)為:
a.在讀取某個(gè)文件或運(yùn)行某個(gè)程序時(shí)，系統(tǒng)反復(fù)讀盤且出錯(cuò)，提示文件損壞等信息，或要經(jīng)過很久時(shí)間才能成功，有時(shí)甚至出現(xiàn)藍(lán)屏。
b.高級格式化后發(fā)現(xiàn)壞簇(BadClusters )。
c.用SCANDISK等工具檢測時(shí)發(fā)現(xiàn)B標(biāo)記或提示“扇區(qū)錯(cuò)誤”信息。
硬盤邏輯壞道
一般出現(xiàn)以下幾種提示信息可以首先歸為硬盤邏輯壞道。
1、檢驗(yàn)錯(cuò)誤，即ECC錯(cuò)誤和CRC錯(cuò)誤：操作系統(tǒng)將數(shù)據(jù)寫入扇區(qū)時(shí)，會將數(shù)據(jù)經(jīng)
過一定的算法運(yùn)算生成一個(gè)校驗(yàn)碼（ Error Correction Code ， ECC ），并將其記錄在
該扇區(qū)的信息區(qū)內(nèi)，以后每次對數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取時(shí)，都會同時(shí)讀取該校驗(yàn)碼，并對數(shù)
據(jù)重新運(yùn)算生成新的校驗(yàn)碼比對是否一致。如果一致則認(rèn)為該扇區(qū)正常，否則認(rèn)為
該扇區(qū)出錯(cuò)，即校驗(yàn)錯(cuò)誤。導(dǎo)致這類故障的原因主要是磁盤表面磁介質(zhì)損傷、硬盤
寫功能不正常以及校驗(yàn)碼的算法差異等。
2、扇區(qū)標(biāo)志錯(cuò)誤，即IDNF錯(cuò)誤：若系統(tǒng)在需要讀寫時(shí)找不到相應(yīng)的扇區(qū)即會出現(xiàn)該
提示，造成這個(gè)錯(cuò)誤的原因可能是系統(tǒng)參數(shù)錯(cuò)亂導(dǎo)致內(nèi)部地址轉(zhuǎn)換出錯(cuò)，使系統(tǒng)找不到指定的扇區(qū)；或者某個(gè)扇區(qū)記錄的標(biāo)志信息出錯(cuò)導(dǎo)致系統(tǒng)無法正確辨別扇區(qū)。
3、地址信息錯(cuò)誤，即AMNF ( Address Mark Not Found)錯(cuò)誤：造成這個(gè)錯(cuò)誤的原因一般是因?yàn)槟硞�(gè)扇區(qū)記錄的地址信息出錯(cuò)，導(dǎo)致系統(tǒng)在對它進(jìn)行訪問時(shí)發(fā)現(xiàn)其地址信息與系統(tǒng)編排的信息不一致。
4、壞塊錯(cuò)誤標(biāo)記，即BBM （Bad Block Mark）錯(cuò)誤：除了自然的因素外，非自然因素也會產(chǎn)生壞扇區(qū)問題。如某些病毒程序或軟件可以在扇區(qū)強(qiáng)行寫入壞扇區(qū)標(biāo)記，使系統(tǒng)無法正常地使用這些扇區(qū)。
硬盤壞道預(yù)防
1、保持清潔防止灰塵進(jìn)入，預(yù)防溫度過高。
2、輕拿輕放，工作中不能突然關(guān)機(jī)。
3、定期使用效率源數(shù)據(jù)安全中心的健康診斷檢查，定期殺毒。
4、經(jīng)常整理，注意備份。
5、當(dāng)健康診斷出現(xiàn)問題時(shí)，請根據(jù)提示及時(shí)轉(zhuǎn)移備份數(shù)據(jù)。必要時(shí)請更換硬盤。
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